[площадь] — относительная площадь устройства, по умолчанию ее значение равно 1. Компонент GaAsFET, как показано на рис. D.1, смоделирован как встроенный полевой транзистор (FET) с омическим сопротивлением RD, включенным последовательно со стоком, второе омическое сопротивление RS включено последовательно с истоком и третье омическое сопротивление RG — последовательно с затвором.[10]
Curtice и Raytheon представляют собой модели, названные по именам авторов. Описание приведено, соответственно, в работах:
[1] W. R. Curtice, «А MOSFET model for use in the design of GaAs integrated circuits», IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, MTT-28, 448-456 (1980).
[2] H. Statz, P. Newman, I. W. Smith, R. A. Pucel, and H. A. Haus, «GaAs FET Device and Circuit Simulation in SPICE», IEEE Transactions on Electron Devices, ED-34,160-169 (1987). (Прим. переводчика.)
Рис. D.1. Модель для арсенид-галлиевых транзисторов GaAsFET
Если [имя модели] отсутствует, то <значение> приведенное далее, представляет собой емкость в фарадах. Если [имя модели] задано, то емкость вычисляется по формуле
Коэффициент нелинейности емкости прямосмещенного перехода
0,5
VTOTC
Температурный коэффициент VTO
0
ВЕТАТСЕ
Температурный коэффициент BETA
0
KF
Коэффициент спектральной плотности фликкер-шума
0
AF
Показатель спектральной плотности фликкер-шума
1
Полевой транзистор JFET, как показано на рис. D.3, смоделирован как встроенный полевой транзистор с омическим сопротивлением RD, включенным последовательно со стоком. Другое омическое сопротивление RS включено последовательно с истоком.
Рис. D.3. Модель полевого транзистора JFET
K — связанные катушки индуктивности (трансформатор на магнитопроводе)
K<имя> называет компонент, состоящий из двух или более магнитно-связанных катушек индуктивности. Точкой обозначают первые (положительный) узел каждой катушки индуктивности. Если задано <имя модели>, то компонент представляется моделью, в которой:
а) катушка индуктивности представляет собой нелинейное устройство с магнитопроводом;
б) характеристики ВН основаны на модели Jiles-Atherton*;
в) значения L указывают число витков соответствующей обмотки;
г) необходима директива ввода модели, чтобы определить ее параметры.
Если [имя модели] отсутствует, то <значение> представляет собой индуктивность в генри. Если [имя модели] задано, то индуктивность вычисляется по формуле
<Значение> L (I + IL1·I + IL2·I²)(I + TC1(T – Tnom) + ТС2(Тм – Tnom)²),
где Tnom — номинальная температура, установленная опцией TNOM.
Транскондуктивность, связывающая ток стока с напряжением
2Е-5
А/В²
GAMMA
Коэффициент влияния подложки на пороговое напряжение
0
В0.5
PHI
Поверхностный потенциал
0,6
В
LAMBDA
Константа, учитывающая модуляцию длины канала (для моделей 1 и 2)
0
В-1
RG
Омическое сопротивление затвора
0
Ом
RD
Омическое сопротивление стока
0
Ом
RS
Омическое сопротивление истока
0
Ом
RB
Омическое сопротивление подложки
0
Ом
RDS
Сопротивление утечки сток-исток
Бесконечно большое
А
RSH
Удельное сопротивление диффузионных областей стока и истока
0
Ом/кв
IS
Ток насыщения pn-перехода сток(исток)-подложка
1Е-14
А
PB
Потенциал приповерхностного слоя подложки
0,8
В
JS
Плотность тока насыщения pn-перехода сток(исток)-подложка
0
А/м²
CBD
Емкость перехода сток-подложка при нулевом смещении
0
Ф
CBS
Емкость перехода исток-подложка при нулевом смещении
0
Ф
CJ
Удельная емкость перехода сток(исток)-подложка при нулевом смещении (на единицу площади перехода)
0
Ф/м²
CJSW
Удельная емкость боковой поверхности перехода сток(исток) — подложка при нулевом смещении (на единицу длины периметра перехода)
0
Ф/м
MJ
Градиентный коэффициент нижнего pn-перехода
0,5
Ф
MJSW
Градиентный коэффициент боковой части pn-перехода
0,33
Ф
FC
Коэффициент емкости перехода подложки при прямом смещении
0,5
CGSO
Удельная емкость перекрытия затвор-сток (на единицу ширины)
0
Ф/м
CGDO
Удельная емкость перекрытия затвор-исток (на единицу ширины)
0
Ф/м
CGBO
Удельная емкость перекрытия затвор-подложка (на единицу ширины)
0
Ф/м
NSUB
Плотность легирования подложки
0
см-3
NSS
Плотность медленных поверхностных состояний
0
см-2
NFS
Плотность быстрых поверхностных состояний
0
см-2
TOX
Толщина оксидного слоя
бесконечно большая
м
TPG
Тип материала затвора: +1 противоположен типу подложки, -1 такой, как в подложке, 0 алюминий
XJ
Глубина металлургического перехода
0
м
UO
Поверхностная подвижность
600
см²/В×с
UCRIT
Напряженность критического снижения подвижности (для LEVEL = 2)
UEXP
Показатель степени критического снижения напряженности (для LEVEL = 2)
UTRA
(Не используется) напряженность критического снижения поперечное подвижности
VMAX
Максимальная скорость дрейфа
0
м/с
NEFF Коэффициент заряда канала (для LEVEL = 2)
1
XQC
Часть заряда канала, определяемая стоком
1
DELTA
Коэффициент влияния ширины канала на пороговое напряжение
0
THETA
Коэффициент модуляции подвижности (для LEVEL = 3)
0
В-1
ETA
Коэффициент статической обратной связи (для LEVEL = 3)
0
KAPPA
Коэффициент насыщения поля (для LEVEL = 3)
0,2
KF
Коэффициент спектральной плотности фликкер-шума
0
AF
Показатель спектральной плотности фликкер-шума
1
МОП-транзистор, который показан на рис. D.4, смоделирован как встроенный МОП-транзистор с омическим сопротивлением RD, включенным последовательно со стоком, омическим сопротивление RS, включенным последовательно с истоком, омическим сопротивлением RG последовательно с затвором и омическим сопротивлением RB последовательно с подложкой. Сопротивление утечки RDS подключено параллельно каналу (сток-исток).
Напряжение, характеризующее зависимость времени пролета от Vbc
Бесконечно большое
В
ITF
Ток, характеризующий зависимость времени пролета от Vbc
0
А
PTF
Дополнительный сдвиг фазы при частоте I/(2πTF) Гц
0
°
TR
Время обратного пролета для идеального транзистора
0
с
EG
Напряжение ширины запрещенной зоны (высота барьера)
1,11
эВ
XTB
Температурный коэффициент для BF и BR
0
XTI
Температурный коэффициент для IS
3
KF
Коэффициент спектральной плотности фликкер-шума
0
AF
Показатель спектральной плотности фликкер-шума
1
BJT, что видно из рис. D.5, смоделирован как встроенный транзистор с омическим сопротивлением RC, включенным последовательно с коллектором, с переменным сопротивлением последовательно с базой и омическим сопротивлением RE последовательно с эмиттером. Узел подложки не обязателен, по умолчанию он заземляется, если не оговаривается другое соединение.
Рис. D.5. Модель полевого транзистора BJT
R — резистор
R<name> <+узел> <-узел> [имя модели] <значение>
Имя параметра
Параметр
Значения по умолчанию
Единицы
R
Множитель для определения сопротивления
1
TCI
Линейный температурный коэффициент
0
°С
ТС2
Квадратичный температурный коэффициент
0
°C
ТСЕ
Экспоненциальный температурный коэффициент
0
%°C
Если [имя модели] включено в директиву, а ТСЕ не определен, то сопротивление вычисляется по формуле
ZO — характеристическое сопротивление, F частота и NL — относительная длина волны со значением по умолчанию 0,25 (следовательно F в 4 раза больше f).
Линия передачи, как показано на рис. D.6, моделируется как двунаправленная линия задержки с двумя портами: портом А с узлами 1 и 2, находящимся слева, и портом В с узлами 3 и 4, находящимся справа.
Рис. D.6. Модели линии передачи
V — независимый источник напряжения
V[имя] <+узел> <-узел> [[DC] <значение>] [АС<значение> [фаза] [спецификация формы напряжения]
Если имеется [спецификация формы напряжения] она должна быть одной из следующих: EXP(), PULSE(), PWL(), SFFM() или SIN().
При вызове должны быть указаны те же номера узлов, что и при определении подсхемы.
Примечания:
1
К настоящему изданию приложена демонстрационная версии 9-го выпуска программы OrCAD PSpice, которой можно пользоваться свободно. Кроме того, на CD-ROM помещена демо-версия десятого выпуска OrCAD 10.5, с которой можно работать в течение 30 дней после установки на компьютер.
10
Описание этой модели помещено на прилагаемом компакт-диске в файле Documents\PSpice_with_Capture\Pspcref.pdf, с. 165-166. (Прим. переводчика.)